??????宰瞀戳鬻瓣訾矬瞥星发布 等效。??—??相比主要变化如下： 锗丫射线探测器测试方法本标准适用于高纯锗?湎咛讲馄鞯男阅懿馐裕?彩视糜诟叽空鄕射线探测器和锗??探测器的性能测试。下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单?话?n?蔽蟮哪谌?或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。??????谱仪体源活度测量装置检定规程??????谱仪活度标准装置检定规程下，由常规尺寸高纯锗单晶制成的探测器可达到全耗尽。平面型半导体探测器???半导体探测器的两电接触极面是平行的。半导体探测器的两电接触极面是部分或全部同轴的。一般地，某一个电极的一端是闭合的，称为单普通电极同轴探测器???????????外接触层?缂?是?偷耐?崽讲馄鳎?獾缂?霞痈浩?埂Ｒ蛱讲馄骶?宀捎肗型高纯锗，又称探测器灵敏体积中有一与电极同轴的井形圆柱孔。测量样品可以放人井中，被探测器灵敏区所包 ??—??半导体探测器两电极间所施加的反向工作电压。移动的载流子电荷密度不足以中和半导体内施主或者受主的净固定电荷密度的区域。对于二极管型半导体射线探测器，耗尽区就是探测器的灵敏区。死层??电离粒子通过半导体探测器后，收集电荷形成积分电流所需要的时间间隔。以其最终值的?％上升到?％所需要的时间来表示。十分之一高宽?????测量能峰分布峰值的五十分之一处的宽度。?氲继逄讲馄鞯?能量分辨力????????????探测器和前放组合的测量系统能够分辨的两个粒子能量之间的最小值。对于给定能量，用测量能谱能峰的??表征，以能量单位表示。定时时间分辨力???探测系统能够分辨的两个脉冲之间的最小时间间隔。用定时时间分布谱峰的半高宽表征，以时间单位表示。 输入信号延迟反相后与幅度按恒定比例衰减的输人信号叠加，叠加信号的过零点触发定时信号。适当选择衰减比例和延迟，定时信号与输入脉冲的上升时间和幅度无关，可以减少定时晃动。能谱中的尖锐部分，由辐射事件的全部能量沉积在探测器中并全部转化为脉冲幅度形成，即单能辐射的全能峰。峰康比??单能谱线的峰道计数与康普顿连续谱平坦部分的平均道计数之比。凹杯???????????????参考条件低温下工作，冷却时间应该满足制造商规定的时间。??测试仪器任何一项测试结果在测量精度内能够重复。